
遠方光電提供專業的LED封裝及模組測試儀器,主要包括LED光色電綜合性能測試系統、LED光強角度測試系統、LED近場分布測試、LED加速老化試驗及壽命測試系統、LED熱學(結溫、熱阻)測試系統、LED光輻射安全測試(IEC62471測試)系統、LED近場分布光度計、電磁兼容(EMC)試驗系統、在線測試系統等。
一、LED光色電綜合性能測試
主要功能:測試光通量、光效、光功率、相對光譜功率分布、色品坐標、色溫、主波長、峰值波長、光譜半寬度、顯色指數、色純度、紅色比、色容差、正向電壓、正向電流、反向電壓、反向電流等參數??赏瑫r實現LED的瞬態光學特性測量(脈沖測量)及穩態光學特性測量(直流測量)。 可實現測試并分析LED、大功率集成封裝(COB)LED、LED模組等產品在不同殼溫/結溫下的光色電綜合特性(選項)。
PCE-2000B 單顆LED/模組光色電測試系統
ATA-500 LED自動溫控光電分析測量系統
詳細配置請詢遠方光電客戶中心。
二、LED光強、角度測試
主要功能:測試LED封裝及模組的空間光強分布(配光性能)、空間顏色分布、平均顏色及顏色不均勻性、總光通量準確測試;以及封裝的光強隨正向電流變化特性曲線、正向電流隨正向電壓變化特性曲線、光強隨時間變化特性曲線、正向電壓、正向電流、反向電壓、反向電流等參數。
LED626 LED分布光度計
GO-SPEX100空間光譜分布測試系統
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三、LED加速老化試驗及壽命測試
主要功能:用于單顆LED、LED模組的常規老化、加速老化、光通維持特性試驗、壽命試驗和溫度特性試驗。測試項目包括:LED光度(或光效)-時間變化曲線(光通量維持特性曲線); LED光度-管基溫度-時間變化曲線(溫度特性試驗)、LED色度-管基溫度-時間變化曲線(溫度特性試驗)、LED結電壓-時間變化曲線、LED結電壓-光度變化曲線、LED結電壓-色度變化曲線等。并可通過數據處理,建立推算模型,推算出該加速應力下LED樣品的預期壽命。
參考IESNA LM-80-2008、IES TM-21、ENERGY STAR等國際及國內相關標準。
LT-200A 單顆LED和LED模組加速老化與壽命測試系統
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四、LED熱學(結溫、熱阻)測試
主要功能:可實現LED熱阻、參考熱阻、熱校準系數、結溫以及電性能參數的分析測量,同時可繪制不同環境溫度下的電流(mA)-電壓(V)特性曲線(I-V@TC), 電壓(V)/結溫(℃)/-時間(ms)曲線,瞬態升溫、降溫曲線、積分結構曲線、微分結構曲線和相對光譜曲線等。
TRA-300 LED熱阻結構分析測試系統
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五、LED光輻射安全測試(IEC62471測試)
主要功能:主要用于LED封裝、LED模組、LED燈具、節能燈、熒光燈、HID燈等各種光源的光輻射安全測試。測試項目包括皮膚和眼睛的光化學紫外危害、眼睛的近紫外危害、視網膜藍光危害、視網膜熱危害等,并根據危害性程度進行光輻射安全等級評定。
參考IEC/EN 62471、CIE S009、GB/T 20145、IEC/EN 60598、GB7000.1、2005/32/EC歐盟指令等標準。
OST-500光輻射安全測定系統 SRS-200A光譜輻亮度輻射安全測量系統
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六、 LED近場分布光度計
主要功能:GO-NR1000近場分布光度計適用于小型光源(如LED等)的近場光度測量,能夠得到光源的亮度分布,并通過算法建立光線模型,得到總光通量、空間任意平面的照度分布以及遠場光強分布等。系統輸出的光線模型能與Tracepro等光學軟件相配合,更方便、準確地進行照明產品等的二次光學設計和研發。
GO-NR1000 近場分布光度計
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七、電磁兼容(EMC)試驗
主要功能:參考IEC及LED相關標準設計,進行抗靜電能力(ESD)試驗。多種試驗模式(IEC模式、MM機器模式、HBM人體模式)可選擇。
ESD-1000 LED 抗靜電能力自動測試系統
更多測量參數及配置方案請垂詢遠方客戶中心。
八、 LED模組在線測試系統
主要功能: MAT系列LED模組自動測試系統針對各種類型LED模組的光色一致性進行測試,并根據測試結果進行合格判定。
MAT系列LED模組自動測試系統
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